Ninox 640II, Hãng ISUZU OPTICS
Ninox 640II, Hãng ISUZU OPTICS
Thông số kỹ thuật
| Ninox 640II | |
| Loại cảm biến | Điốt quang PIN InGaAs |
|---|---|
| Điểm ảnh hoạt động | 640 x 512 |
| Khoảng cách pixel | 15µm x 15µm |
| Khu vực hoạt động | 9,6mm x 7,68mm |
| Đáp ứng quang phổ1 | 0,6µm đến 1,7µm |
| Độ nhiễu đọc (RMS) | LG: <175e- (thường là 150e-) HG: <22e- (thường là 18e-) |
| Hiệu suất lượng tử cực đại | >90% @ 1,3μm |
| Độ sâu giếng pixel (FWC) | LG: >250ke- HG: 10ke- |
| Dòng điện tối (e/p/s) | <3.000 ở -15°C (1.500 điển hình) |
| Khả năng hoạt động của pixel | >99,5% |
| Loại cảm biến | Điốt quang PIN InGaAs |
Các ứng dụng thực tế
-
Thiên văn học: Hỗ trợ quan sát các thiên thể, nghiên cứu không gian. Và các hiện tượng thiên văn trong dải sóng hồng ngoại.
-
Định hình chùm tia: Phục vụ công tác đo đạc, kiểm tra. Và phân tích đặc tính của các chùm tia laser trong hệ thống quang học.
-
Hình ảnh NIR-II: Cung cấp khả năng ghi hình trong dải sóng cận hồng ngoại thế hệ thứ hai. Với độ chi tiết và độ sâu hình ảnh cao.
-
Huỳnh quang: Hỗ trợ phát hiện và phân tích tín hiệu huỳnh quang. Phục vụ cho nghiên cứu sinh học và vật liệu.
-
Hình ảnh siêu phổ: Kết hợp phân tích quang phổ chi tiết. Để thu nhận dữ liệu hình ảnh đa chiều phục vụ nghiên cứu chuyên sâu.
-
Kiểm tra chất bán dẫn: Phát hiện lỗi ẩn bên trong, kiểm tra vi mạch. Và các tấm wafer silicon trong ngành công nghiệp điện tử.
-
Kiểm tra pin mặt trời: Hỗ trợ đánh giá chất lượng, phát hiện khiếm khuyết. Và vết nứt vi mô trên các tấm quang điện mặt trời.
-
Nhiệt ảnh: Đo lường và phân tích nhiệt độ bề mặt vật



Đánh giá
Chưa có đánh giá nào.